IT Product Reliability
IT제품 시험
AEC-Q 등 국내외 규격에 따라 IT·전자제품과 자동차용 반도체·부품의 신뢰성을 평가합니다.
- 주요 시험 항목
- 6종
- 적용 규격
- 4종
- 보유 장비
- 5종
서비스 소개
ATL은 스마트폰·스마트워치·노트북·태블릿·조명 등 IT 제품이 다양한 환경에서 안정적으로 작동하는지 국내외 규격에 따라 평가·분석합니다.
특히 미국 자동차 전자위원회(AEC)가 제정한 AEC-Q 시리즈에 따라 자동차용 반도체(IC·디스크리트·광전자·MEMS·MCM)와 수동소자의 품질·신뢰성을 검증합니다.
온도·진동·습도 등 극한 조건의 스트레스 시험으로 고장률 최소화(Zero Defect)와 글로벌 부품 납품 품질 경쟁력 확보를 지원합니다.
주요 시험 항목
분야별 핵심 시험·평가 항목을 제공합니다.
AEC-Q100 집적회로(IC) 스트레스 시험
AEC-Q101 디스크리트 반도체(다이오드·트랜지스터) 시험
AEC-Q102 광전자 소자(LED·포토다이오드·광센서) 시험
AEC-Q103 MEMS 소자(자이로·가속도계) 시험
AEC-Q104 멀티칩 모듈(MCM·SiP) 시험
AEC-Q200 수동소자(저항·커패시터·인덕터) 시험
적용 규격
국제·국내 표준에 기반하여 객관적인 시험 결과를 제공합니다.
- AEC-Q100 / Q101
- 자동차용 집적회로(IC) 및 디스크리트 반도체 스트레스 시험 인증 규격
- AEC-Q102 / Q103
- 광전자 소자(LED 등) 및 MEMS 소자 스트레스 시험 인증 규격
- AEC-Q104
- 멀티칩 모듈(MCM·SiP) 스트레스 시험 인증 규격
- AEC-Q200
- 수동소자(저항·커패시터·인덕터) 스트레스 시험 인증 규격
보유 장비
정밀 계측 신뢰성을 갖춘 시험 설비로 정확한 데이터를 산출합니다.
열충격 시험기
-65~200℃, 댐퍼 방식
AEC-Q 온도 스트레스(열충격) 시험을 수행.
온도 급변 챔버 (PTC)
-65~200℃, 7/10/15℃/min
전원 인가 온도 사이클 스트레스 시험을 수행.
항온항습기
-60~150℃, 20~98%RH
고온고습 등 환경 스트레스 시험을 수행.
복합 진동시험기
최대 63.6kN, 2~2,700Hz
기계적 진동 스트레스 시험을 수행.
주사전자현미경 (SEM/EDS)
배율 30~250,000배, 5nm
소자 고장 분석 및 미세구조·성분 분석을 수행.
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